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变压器绕组变形测试仪 (变压器高压侧对低压测D试验接线图)3.III形连接，这种接线是针对每一个相都是单个变压器的情况，先用黄色的测试线连接A端，用黑色的测试线连接x端，测量单元上也将红色和黑色的略粗连线的插头插入下面对应的电流端口，将略细连线的插头插入上面对应的电压端口，然后直接开始测试。待测试完成后，再换到下一个单相变压器, 用绿色的测试线连接B端，用黑色的测试线连接y端，继续测试；测试完成后，用红色的测试线连接C端，用黑色的测试线连接z端,完成所有的测量。(变压器高压侧对低压测AX试验接线图)(变压器高压侧对低压测BY试验接线图)(变压器高压侧对低压测CZ试验接线图)4.Yn形试验连接先将低压侧三相用短路夹子全部短接，然后按黄绿红对应的ABC三相根据当前测量的内容用测量夹子接好高压侧或者中压测，黑线接到O点，测量单元这边的八个端口，也按黄绿红黑对应的ABCO三相四线，将略粗连线的插头插入下面对应的电流端口，将略细连线的插头插入上面对应的电压端口。注意事项:该仪器在测量之前应预热15分钟，如果在冬季等气温偏低的情况下，预热时间应适当加长，确保仪器的正常测量。注意严格按示意图接地线，特别注意的是响应信号的接地夹子要先通过连接线与激励信号的接地夹子连接，再由激励信号的接地线与铁芯接地，保证信号电流的正确流向。

变压器绕组变形测试仪准备工作注：使用说明书中涉及计算机及Windows操作系统的基本操作不在本使用说明书中，请参考相关的计算机书籍。注：使用说明书中关于Windows操作系统的基本操作以Windows7操作系统为基础，其他Windows系统的操作与Windows 7操作的差别不在本使用说明书之内，请参考相关的计算机书籍。三 试验接线3.1面板介绍变压器绕组变形测试仪的面板如图1所示。图1变压器绕组变形测试仪面板图进行变压器绕组变形测试时的外部接线示意图如图2所示。仪器的 激励端 通过输入电阻（内阻）将扫频电压信号输入被试变压器绕组的首端，首端的电压信号输入仪器的 输入端 ，被试变压器绕组末端的电压信号输入到仪器 响应端 。变压器绕组变形测试仪的“接地”、“被试变压器”的外壳和铁芯一起接地。3.2绕组的接线方式图2 变压器绕组变形测试的外部接线示意图绕组变形频率响应测试的扫频信号建议从绕组的末端注入，首端输出，非被试绕组悬空。根据变压器的不同接线组别，绕组变形测试的接线方式也不同。?YN接线扫频信号输入阻抗接于中性点O，扫频信号输出阻抗分别接在A、B、C上。这种测量方法，可以将非测量相上接收到的干扰信号由信号发生器上的低阻抗来吸收。如图3所示。图3 YN接线?Y接线由于中性点未引出，应按以下方式接线，如图4所示。输入阻抗接于A，输出阻抗接在B测试。输入阻抗接于B，输出阻抗接在C测试。输入阻抗接于C，输出阻抗接在A测试。图4 Y接线?内连接△接线内连接Δ接线绕组的接线方式如图5所示。输入阻抗接于c，输出阻抗接在a相，代表a相。输入阻抗接于a，输出阻抗接在b相，代表b相。输入阻抗接于b，输出阻抗接在c相，代表c相。图5 内连接Δ接线由于内连接Δ接线非测量的两个绕组串联后并联在回路中，理论上说对测试过程是有影响的。如果衰减超过10dB后，则可以认为非测量线圈的影响可以忽略。?外连接Δ接线如果绕组解开测量的接线方式如图6所示。如果不解开连接，可以看作内连接Δ接线，接线方式如图7所示。输入阻抗接于x，输出阻抗接在a相，代表a相。输入阻抗接于y，输出阻抗接在b相，代表b相。输入阻抗接于z，输出阻抗接在c相，代表c相。图6外连接Δ接线?有平衡绕组的变压器对于有平衡绕组的变压器，测试时必须解开接地。如图7所示。图7 平衡绕组接线

变压器绕组变形测试仪进入软件后，点击“测量”,被试变压器情况登记窗，先点击“变压器参数”，按屏幕提示选择或者新填入被试变压器的各项参数，确认后再将被试变压器的绕组类型、连接类型、信号注入端、信号测量端、高低分接开关、油温和环境温度的情况输入计算机。(系统会连接类型自动选择正确的信号注入端、信号测量端)根据输入完毕后，按“开始测量”即可进行测量。由于存盘文件名和上述输入信息有关，故请认真填写有关信息。如未选择变压器参数，系统拒绝开始测量。注意：所有变压器的参数的内容不能含有空格或者特殊字符。测量完成后，系统会自动选择好下一相的参数，在正确接线完成后可直接按“开始测量”即可进行下一相的测量。如果人为修改测量参数，出现已测试过的相位，系统将会自动提醒，可防止测量过程因为遗漏而出现未全部测量完毕的情况。在测量过程中，可以在数据文件分析管理窗口中选择历史数据曲线，这样可以横向或纵向对测试中的曲线进行对比，以便发现可能出现的接线错误等情况，及时停止测量纠正。在测量中，数据显示窗口会跟踪显示相关的数据，也可随时中断测量。测量结束后，将出现数据已保存窗口，同时数据曲线进入数据文件分析管理窗口显示出来，此时可接着进行下一次测量。